数字电子技术实验

（共24学时）

实验一

（实验性质：验证性 学时：2 ）

题目：ＴＴＬ门电路逻辑功能及参数的测试

一、实验目的：

①熟悉常用TTL门电路的逻辑功能。

②了解TTL门电路参数的测试方法及物理意义。

二、实验内容：

必做内容：

（A）、测试SSI门电路74LS00、74LS02的逻辑功能；参照表格一

(B)、测试74LS00与非门特性曲线，参照表格二，所有曲线必须画在坐标纸上。

①电压传输特性曲线，并从曲线上读出UOH、UOL、UON、UOFF、、UNH、UNL、参数的值；

②输入负载特性曲线，并从曲线上确定RON、ROFF参数的值；

选作内容：

①输入短路电流IIS及输入高电平电流IIH的测试；

②输出负载特性曲线，并从曲线上确定IOH、IOL参数的值。

三、预习报告要求：

(1)、画出要测各种SSI集成电路的逻辑功能测试表格。

基本格式一：

表格标题：（与非门真值表） 器件名：（74LS00）

基本格式二：

标题：（与非门电压传输特性曲线） 器件名：（74LS00）

(2)、查手册画出要测各种SSI集成电路的引脚图　

(3)、画出测试电路图　

(4)、标示所用的参数的物理意义

四、参考资料：实验指导书 P88：TTL门电路逻辑功能测试；

P90 ：TTL与非门静态参数测试

五、实验用器件：74LS00、74LS02

六、实验报告要求：

1． 认真整理实验数据，并列出表格或画出曲线，分析实验测量数据与理论数据误 差；（数值收获 量变）

2． 写出本次实验电路小结（原理、概念提高 质变）；回答书上思考题

3． 认真总结本次实验的心得体会和意见，以及改进实验的建议。

实验一 - ttl门电路逻辑功能及参数测试