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发布时间：1714772729
（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号CN201510742459.3（22）申请日2015.11.04（71）申请人北京航空航天大学
地址100191北京市海淀区学院路37号
（10）申请公布号CN105424186A
（43）申请公布日2016.03.23
（72）发明人苏丽娟;袁艳;周健
（74）专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙
代理人张大威
（51）Int.CI
G01J3/28;
权利要求说明书说明书幅图
（54）发明名称
一种光场成像光谱仪的光谱标定校正方法
（57）摘要
本发明公开了一种成像光谱仪的调试方
法，包括：搭建光谱定标系统；开展光谱定标实验，获取每个谱段相应图像；基于测量结果拟合获得像元中心波长和光谱带宽；确定每个微透镜的光谱采样位置；搭建响应非均匀性定标系统，获取响应非均匀系数；拍摄实际场景提取光谱数据并用响应非均匀系数校正；重构光谱数据立方体，获取单一谱段场景图像。本发明具有如下优
点：可实现对成像光谱仪全视场的定标，无需局部扫描；波长采样位置机理更符合成像光谱仪自身机理，有利于保证信息提取的准确性；在光谱维度上进行数据重构，减少了混叠等因素的影响。
法律状态
法律状态公告日
2016-03-232016-04-202017-06-27
法律状态信息
公开
实质审查的生效授权
法律状态
公开
实质审查的生效授权
权利要求说明书
一种光场成像光谱仪的光谱标定校正方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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